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硅光&AWG芯片全自動(dòng)測(cè)試臺(tái)

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硅光&AWG芯片全自動(dòng)測(cè)試臺(tái)

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產(chǎn)品功能介紹 Product Function Introduction

1. 采用雙邊14軸高精度步進(jìn)電機(jī),配合高精度渦電流傳感器,結(jié)合特殊算法快速找到最佳信號(hào)位置的設(shè)計(jì)架構(gòu),然后進(jìn)行光譜掃描測(cè)試并分析測(cè)試結(jié)果。

2. 兼容石英玻璃基和硅基芯片材料的Bar條芯片測(cè)試。

3. 流程化操作,兼容AWG/CWDM4/PLC等各種類型平面波導(dǎo)產(chǎn)品的測(cè)試.

4. 單顆產(chǎn)品的自動(dòng)對(duì)光時(shí)間<30秒. 耦合重復(fù)性<0.1dB. 

5. 單顆產(chǎn)品的掃描測(cè)試時(shí)間<30秒(4相位), 掃描原始數(shù)據(jù)和測(cè)試結(jié)果保存到數(shù)據(jù)庫(kù)。

6. 渦雙邊渦電流進(jìn)口傳感器自動(dòng)對(duì)三個(gè)方向的角度調(diào)平行,自動(dòng)控制FA端面(任意角度)與每一顆芯片的距離,沒有行程導(dǎo)致的各種累計(jì)誤差。

7. 操作簡(jiǎn)單,對(duì)熟練員工沒有依賴性,員工只需要手動(dòng)上料,并對(duì)第一顆芯片進(jìn)行初始找光,后續(xù)顆粒產(chǎn)品全程自動(dòng)完成,一名員工可以看守多個(gè)測(cè)試臺(tái)。

 

系統(tǒng)性能指標(biāo)  System Performance Index   

規(guī)格

要求

單位

描述

重復(fù)性

<0.2

dB

同一顆芯片反復(fù)耦合的IL變化量

穩(wěn)定性

<0.2

dB

點(diǎn)上匹配液后10分鐘內(nèi)最大的IL變化量

循環(huán)時(shí)間

第一顆初始找光

4

Min

從芯片上料到找到初始光的時(shí)間

后續(xù)每顆重復(fù)找光

35

S

除了第一顆初始找光時(shí)間外,Bar后續(xù)每顆的耦合時(shí)間

掃描測(cè)試時(shí)間

<30

S

Santec光源,1260~1350nm,掃描速度20nm/秒,25pm步距,4相位穆勒矩陣算法SANTEC TLS,1260~1350nm, 20nm/sec, 25pm step Muller matrix method(4 state)

耦合精度

<0.2

dB

標(biāo)準(zhǔn)類型雙向CWDM4

分析參數(shù)個(gè)數(shù)

>15

Param

IL,PDL,PDW,Ripple, 0.5/1/3dB bandwith,Adj Crosstalk, Non-Adj crosstalk,Total crosstalk.(Comply with customer requirements)


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