功能介紹

1. 支持Bar條測(cè)試，可與自動(dòng)化耦合握手，耦合對(duì)光完成之后自動(dòng)進(jìn)行掃描測(cè)試。

2. 支持不同類型的CWDM4（MUX和DEMUX）以及100G Lan WDM器件的掃描和全3、帶寬的PDL測(cè)試，參數(shù)設(shè)置靈活，界面可視化、操作非常簡(jiǎn)便。

3. 支持多工位對(duì)可調(diào)光源進(jìn)行實(shí)時(shí)并行共享掃描測(cè)試，工位互不干擾，無需排隊(duì)等待（行業(yè)首創(chuàng)，百分百驗(yàn)證并有多家客戶成功案例，每個(gè)工位掃描時(shí)間相同，并且申請(qǐng)了專利）。

4. 自動(dòng)計(jì)算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道帶寬和中心波長(zhǎng)（1dB，3dB等）、Isolation、Slope、Crosstalk等參數(shù)。

5. 自動(dòng)分析計(jì)算各種所需的測(cè)試參數(shù)結(jié)果和自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果。

6. 失效參數(shù)自動(dòng)區(qū)分并標(biāo)識(shí)，使失效數(shù)據(jù)一目了然。

7. 系統(tǒng)軟件兼容各種可調(diào)光源（Agilent，santec，uc等）和各種帶trigger功能的功率計(jì)。

測(cè)試界面示意圖

系統(tǒng)性能指標(biāo)